单元测试——隔离用例与可诊断回归 28286 字·57 分钟 嵌入式 单元测试 用例隔离 边界值 可诊断回归 STM32F407xx 证据边界 能够把已学批次交接逻辑拆成彼此隔离、失败可定位的 C11 单元测试,用边界与错误用例建立可重复回归,并将测试证据与 STM32F407xx 时钟、外设、HAL 回调及实机证据严格区分。
主机测试——受控事件验证嵌入式批次交接 24295 字·49 分钟 嵌入式 主机测试 受控事件 独立测试预言 STM32F407xx DMA批次交接 证据边界 能够为已学的 STM32F407xx 采集到发送的批次交接划定可在主机运行的测试边界,用可控回调事件与故障序列、独立预期结果检验所有权、背压和恢复,同时将主机逻辑证据与 CubeMX/HAL/LL/寄存器参考实现及待执行的实机验证严格分开。