单元测试——隔离用例与可诊断回归 28286 字·57 分钟 嵌入式 单元测试 用例隔离 边界值 可诊断回归 STM32F407xx 证据边界 能够把已学批次交接逻辑拆成彼此隔离、失败可定位的 C11 单元测试，用边界与错误用例建立可重复回归，并将测试证据与 STM32F407xx 时钟、外设、HAL 回调及实机证据严格区分。
